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仪器设
施名称 |
中文 |
高分辨场发射透射电子显微镜 |
仪器类别 |
分析仪器
电子光学仪器 |
英文 |
High Resolution Field Emmission Transmission Electron Microscope |
仪器代码 |
0101011420111 |
型号规格 |
JEM -2100F |
产地 |
日本 |
仪器价值(万元) |
720 |
启用时间 |
2006-04 |
主要附件 |
X 射线能谱仪、扫描透射附件、 CCD 相机、各种制样设备 |
主要技术指标 |
点分辨率: 0.19nm ;线分辨率: 0.14nm ;加速电压: 80 、 100 、 120 、 160 、 200kV ;倾斜角: 25 ; STEM 分辨率: 0.20nm |
仪器目
前状况 |
完好 |
主要功能与用途 |
用于材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体及纳米技术,可实现超高分辨率图像的观察,得到纳米尺度的结构、成分等信息。 |
服务方式 |
对外有偿服务 |
拥有单位名称 |
武汉理工大学材料研究与测试中心 |
联系
方式 |
地 址 |
武汉理工大学测试中心 |
邮政编码 |
430070 |
电 话 |
027-87651843-8116 |
传真 |
027-87395164 |
联系人 |
孙振亚 |
E-mail |
—— |
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